Міністерство освіти і науки України Національний університет „Львівська політехніка” Кафедра ЕОМ Звіт з лабораторної роботи № 2 на тему: „Тестування OЗП” Підготував: ст. гр. СКС-5 Львів 2006 Мета роботи: ознайомлення з загальною схемою тестування цифрової техніки. Засвоєння методів та засобів тестування цифрових схем із пам’яттю на прикладі оперативного запам’ятовуючого пристрою (ОЗП). Необхідно розробити програму тестування ОЗП, за результатами тестування ОЗП визначити несправні виводи та біти ОЗП, а також тип несправності (обрив, закоротка). Короткі теоретичні відомості: Особливості тестування схем з пам'яттю (на прикладі ОЗП). Вихід цифрового вузла з пам’яттю залежить як від стану його входів у даний момент часу, так і від їхнього стану у попередні моменти часу. Ця обставина значно ускладнює тестування таких вузлів у порівнянні з комбінаційними схемами, оскільки реакція на тестовий набір з'являється на виході вузла з значною затримкою у часі і ця затримка залежить від функції і внутрішньої структури вузла. До вузлів з пам'яттю можна віднести вузли оперативний запам'ятовуючий пристрій (ОЗП), цифрові автомати та інші. ОЗП (рис.1) має такі групові входи: адреси (A); вхідних даних (DI - Data Input), а також входи дозволу видачі інформації на вихід (OE - Output Enable); запису (WR) ; читання (RD); вхід, який забезпечує нарощування об'єму ПЗП (CS - Chip Select),. ОЗП має груповий вихід даних DO - Data Output. Основні кількісні характеристики ОЗП: кількість слів N = 2n; об’єм пам’яті V = m*N = m*2n біт. Перевірка ОЗП складається з кількох етапів. Спочатку перевіряється, що інформація доходить до входів мікросхем ОЗП і знімається з виходів (це перевіряється так званими тестами шини адреси та шини даних). У цих тестах задіяні тільки деякі комірки (біти) запам’ятовуючого масиву мікросхем пам’яті. На другому етапі перевіряється відсутнсть помилок у всьому запам’ятовуючому масиві мікросхем ОЗП – перевіряються усі його комірки (біти). Це так званий тест на збереження інформації. Кожна перевірка ОЗП складається з рознесених у часі циклів запису інформації до ОЗП (коли на ОЗП подається тестова послідовність сигналів) і циклів читання інформації з ОЗП (коли власне на виході даних ОЗП з’являється результат його роботи). Рис. 1. Умовне графічне позначення ОЗП DO OE CS RD WR DI A m n m RAM Основна мета теста шини даних - пересвідчитися, що немає закороток і обривів на шині даних. Для цього обирається одна фіксована адреса ОЗП, наприкалад 0, і послідовно записується до неї і зчитується з неї одна з тестових послідовністей кодів. Такий тест вимагає проведення m циклів запису до ОЗП і m циклів читання з ОЗП. Основна мета теста шини адреси - пересвідчитися, що немає закороток і обривів на шині адреси. Для цього обирається група фіксованих адрес, наприклад, адреси, серед розрядів яких є тільки по одній одиниці - група адрес з біжучою одиницею. Далі виконується перевірка за таким алгоритмом (рис. 2): а) за всіма адресами цієї групи записують фіксовану інформацію - "фон" (наприклад, двійкові нулі 0..0); б) за першою адресою групи записують протилежну фону інформацію ("не фон" – наприклад, двійкові одиниці 1..1); в) перевіряють наявність фону у решті адрес групи; г) якщо фон за всіма адресами не змінився, відновлюють фон у комірці, де був записаний "не фон". Якщо фон десь змінився, то це ознака помилки; д) записують "не фон" до наступної адреси групи і повторюють виконання пукнтів в і г, доки "не фон" не буде послідовно прописаний за всіма адресами групи. Такий тест шини адреси вимагає проведення 2*n циклів запису до ОЗП і n2 циклів читання з ОЗП. Оскільки при перевірках шини адреси і шини даних задіяні лише деякі адреси пам'яті, то слід перевірити доступність даних до кожного біта пам'яті. Для цього виконується перевірка на збереження інформації: а) за всіма адресами пам'яті прописують двійкові нулі 0..0; б) перевіряють, що за всіма адресами па...