МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ Національний університет «Львівська політехніка» Інститут інженерної механіки та транспорту Кафедра «Фізика металів та матеріалознавство» «Прикладна фізика» Група ПФ-31, ІМФН Шифр 0310047 ЗВІТ про виконання практичної роботи «Фізичні методи дослідження матеріалів» (Масспектрометрія вторинних іонів) з дисципліни «Фізичне матеріалознавство» Лектор: професор М.І. Пашечко Керівники лабораторних занять: асистент В.І. Кушпір старший викладач С.Г. Швачко 2006 Масспектрометрія вторинних іонів – руйнуючий метод дослідження ізотопного складу поверхні матеріалу в глибину. Для дослідження потрібен шліф. Прилад, який використовується для дослідження – IMS-4F (CAMEKA) Здійснюється для локального аналізу зразків за глибиною. Сертифікаційне дослідження ізотопного складу.
Діаграма відображає концентрацію проникнення бору в глибину матеріалу при різних тисках. Даний метод дослідження володіє дуже великою точністю. Прилад розпізнає речовину з першого молекулярного шару.