Частина тексту файла (без зображень, графіків і формул):
МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ
Національний університет «Львівська політехніка»
Інститут інженерної механіки та транспорту Кафедра
«Фізика металів та матеріалознавство»
«Прикладна фізика»Група ПФ-31, ІМФНШифр 0310047
ЗВІТ
про виконання практичної роботи
«Фізичні методи дослідження матеріалів»
(Масспектрометрія вторинних іонів)
з дисципліни «Фізичне матеріалознавство»
Студент: __________ Т. Трофимчук
Лектор:
професор М.І. Пашечко
Керівники лабораторних занять:
асистент В.І. Кушпір
старший викладач С.Г. Швачко
2006
Масспектрометрія вторинних іонів – руйнуючий метод дослідження ізотопного складу поверхні матеріалу в глибину. Для дослідження потрібен шліф.
Прилад, який використовується для дослідження – IMS-4F (CAMEKA)
Здійснюється для локального аналізу зразків за глибиною. Сертифікаційне дослідження ізотопного складу.
Діаграма відображає концентрацію проникнення бору в глибину матеріалу при різних тисках.
Даний метод дослідження володіє дуже великою точністю. Прилад розпізнає речовину з першого молекулярного шару.