Частина тексту файла (без зображень, графіків і формул):
МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ
Національний університет «Львівська політехніка»
Інститут інженерної механіки та транспорту Кафедра
«Фізика металів та матеріалознавство»
«Прикладна фізика»Група ПФ-31, ІМФНШифр 0310047
ЗВІТ
про виконання практичної роботи
«Фізичні методи дослідження матеріалів»
(Масспектрометрія вторинних іонів)
з дисципліни «Фізичне матеріалознавство»
Студент: __________ Т. Трофимчук
Лектор:
професор М.І. Пашечко
Керівники лабораторних занять:
асистент В.І. Кушпір
старший викладач С.Г. Швачко
2006
Масспектрометрія вторинних іонів – руйнуючий метод дослідження ізотопного складу поверхні матеріалу в глибину. Для дослідження потрібен шліф.
Прилад, який використовується для дослідження – IMS-4F (CAMEKA)
Здійснюється для локального аналізу зразків за глибиною. Сертифікаційне дослідження ізотопного складу.
Діаграма відображає концентрацію проникнення бору в глибину матеріалу при різних тисках.
Даний метод дослідження володіє дуже великою точністю. Прилад розпізнає речовину з першого молекулярного шару.
Ви не можете залишити коментар. Для цього, будь ласка, увійдіть
або зареєструйтесь.
Ділись своїми роботами та отримуй миттєві бонуси!
Маєш корисні навчальні матеріали, які припадають пилом на твоєму комп'ютері? Розрахункові, лабораторні, практичні чи контрольні роботи — завантажуй їх прямо зараз і одразу отримуй бали на свій рахунок! Заархівуй всі файли в один .zip (до 100 МБ) або завантажуй кожен файл окремо. Внесок у спільноту – це легкий спосіб допомогти іншим та отримати додаткові можливості на сайті. Твої старі роботи можуть приносити тобі нові нагороди!