Подякувати Студентському архіву довільною сумою
Admin
26.02.2023 12:38
Дякуємо, що користуєтесь нашим архівом!
Система граничного сканування
Інформація про навчальний заклад
ВУЗ:
Національний університет Львівська політехніка
Інститут:
Не вказано
Факультет:
Не вказано
Кафедра:
Кафедра електронних обчислювальних машин
Інформація про роботу
Рік:
2004
Тип роботи:
Лабораторна робота
Предмет:
Методи та засоби тестування, відлагодження та діагностики комп'ютерних систем
Група:
СКС
Частина тексту файла (без зображень, графіків і формул):
МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ ТА НАУКИ УКРАЇНИ
НАЦІОНАЛЬНИЙ УНІВЕРСИТЕТ “ЛЬВІВСЬКА ПОЛІТЕХНІКА”
КАФЕДРА ЕЛЕКТРОННИХ ОБЧИСЛЮВАЛЬНИХ МАШИН
ЛАБОРАТОРНА РОБОТА №4
З КУРСУ “МЗТВДКС”
„Система граничного сканування”
Мета роботи: ознайомитись з принципами роботи системи граничного сканування згідно з стандартом IEEE 1149.1-1990.
Показати, як здійснюється перевірка мікросхеми в тестовому режимі, коли треба перевірити передачу даних з тестового входу TDI на інформаційний вихід 1Y1 (тестові дані повинні подаватися на тестовий вхід TDI, результат повинен видаватися на інформаційний вихід 1Y1.
ТЕОРЕТИЧНА ЧАСТИНА
Граничне сканування полягає в тому, що всередині кожної мікросхеми біля кожного її контакту знаходиться тригерна схема F (рис. 3.1.1). У штатному режимі роботи тригерна схема "прозора" і не впливає на роботу мікросхеми.
В налагоджувальному режимі тригерна схема F:
від’єднує контакти мікросхеми від її внутрішньої логіки;
утворює регістр зсуву разом з аналогічними схемами біля усіх контактів мікросхеми, який з зовнішнім (по відношенню до мікросхеми) світом зв’язаний за допомогою інтерфейсу СГС;
як елемент регістра під час виконання ним операції зсуву приймає тестову інформації, яка у послідовному коді подається на вхід TDI регістра;
видає своє вмістиме або всередину кристалу або назовні (в залежності від режиму тестування, який наперед задається однією з команд тестування);
приймає зсередини кристалу або ззовні інформацію (в залежності від режиму тестування, який наперед задається однією з команд тестування) і запам’ятовує її;
виводить прийняту інформацію на послідовний вихід TDO регістра зсуву.
Основні режими роботи схеми граничного сканування:
робочий режим (схема F "прозора");
послідовне завантаження регістру зсуву;
видача завантаженої інформації всередину (назовні) мікросхеми;
прийом обробленої інформації ззовні (зсередини) мікросхеми до регістру зсуву;
послідовне вивантаження інформації.
Тригерна схема, яка знаходиться біля входу мікросхеми, може після послідовного завантаження регістра зсуву з входу TDI видавати інформацію всередину мікросхеми і сприймати нову інформацію ззовні. Після чого регістр зсуву послідовно виводить сприйняту інформацію на вихід TDO.
Тригерна схема, яка знаходиться біля виходу мікросхеми, може після послідовного завантаження регістра зсуву з входу TDI видавати інформацію назовні мікросхеми і одночасно сприймати нову інформацію зсередини. Після чого регістра зсуву з входу TDI послідовно виводить сприйняту інформацію на вихід TDO.
Хід роботи:
1. Для реалізації завдання було здійснено такі кроки:
занесення коду тестової команди (рис. 2):
код 00000011 відповідає команді InTest, тобто здійснюється внутрішнє тестування
Рис. 2 Стан автомата при занесенні команди
2 – введення тестових даних через вхід TDI (рис.3);
Рис. 3 Шлях введення тестових даних
3 - фіксація введених тестових даних (рис.4);
Рис. 4 Фіксація тестових даних
4 - обробка тестових даних системним ядром (System Level) і фіксація їх на виході ядра (рис. 5);
Рис. 5 Фіксація даних на виході ядра
5 – виведення результату і його аналіз (рис.6).
Рис. 6 Шлях виведення результату
Висновок: я ознайомився з принципами роботи системи граничного сканування згідно з стандартом IEEE 1149.1-1990 і продемонстрував хід тестування на моделі.
10.02.2013 23:02-
Ділись своїми роботами та отримуй миттєві бонуси!
0%
Оголошення від адміністратора