МІНІСТЕРСТВО ОСВІТИ І НАУКИ УКРАЇНИ Національний університет “Львівськка політехніка” Інститут інженерної механіки та транспорту Кафедра “Фізика металів та матеріалознавство” “Прикладна фізика” група ПФ-31, ІМФН Шифр 0310008
ЗВІТ про виконання практичної роботи “ Фізичні методи дослідження матеріалів ” (Масспектрометрія вторинних іонів) з дисципліни “Фізичне матеріалознавство” Лектор: професор __________ М. І Пашечко 2006 Масспектрометрія вторинних іонів – руйнуючий метод дослідження ізотопного складу поверхні матеріалу в глибину. Для дослідження потрібен шліф. Прилад, який використовується для дослідження – IMS-4F (CAMEKA) Здійснюється для локального аналізу зразків за глибиною. Сертифікаційне дослідження ізотопного складу.
Діаграма відображає концентрацію проникнення бору в глибину матеріалу при різних тисках. При тиску в 7МПа поверхневий шар значно насиченіший Бором, проте на глибині більше 1 мкм насиченість практично не залежить від тиску. Насиченість при 7МПа може бути причиною утворення найкращих умов для створення дислокації, які може зайняти атоми бору. Даний метод дослідження володіє дуже великою точністю. Прилад розпізнає речовину з першого молекулярного шару.