Міністерство освіти і науки Національний університет „Львівська політехніка” Кафедра EОМ
Звіт з лабораторної роботи № 4 з дисципліни: “ Тестування та діагностика кіберфізичних систем” на тему” Система граничного скануваннz” Львів 2019 Мета роботи: ознайомитись з принципами роботи системи граничного сканування згідно з стандартом IEEE 1149.1-1990. Показати, як здійснються перевірка мікросхеми в тестовому режимі, коли треба перевірити передачу даних з входу 1A1 на вихід 1Y1 (тестові дані повинні подаватися на тестовий вхід TDI, фіксуватися, проходити через ядро, і результат повинен видаватися на тестовий вихід TDO). ТЕОРЕТИЧНА ЧАСТИНА Граничне сканування полягає в тому, що всередині кожної мікросхеми біля кожного її контакту знаходиться тригерна схема F (рис. 3.1.1). У штатному режимі роботи тригерна схема "прозора" і не впливає на роботу мікросхеми. В налагоджувальному режимі тригерна схема F: від’єднує контакти мікросхеми від її внутрішньої логіки; утворює регістр зсуву разом з аналогічними схемами біля усіх контактів мікросхеми, який з зовнішнім (по відношенню до мікросхеми) світом зв’язаний за допомогою інтерфейсу СГС; як елемент регістра під час виконання ним операції зсуву приймає тестову інформації, яка у послідовному коді подається на вхід TDI регістра; видає своє вмістиме або всередину кристалу або назовні (в залежності від режиму тестування, який наперед задається однією з команд тестування); приймає зсередини кристалу або ззовні інформацію (в залежності від режиму тестування, який наперед задається однією з команд тестування) і запам’ятовує її; виводить прийняту інформацію на послідовний вихід TDO регістра зсуву. Основні режими роботи схеми граничного сканування: робочий режим (схема F "прозора"); послідовне завантаження регістру зсуву; видача завантаженої інформації всередину (назовні) мікросхеми; прийом обробленої інформації ззовні (зсередини) мікросхеми до регістру зсуву; послідовне вивантаження інформації. Тригерна схема, яка знаходиться біля входу мікросхеми, може після послідовного завантаження регістра зсуву з входу TDI видавати інформацію всередину мікросхеми і сприймати нову інформацію ззовні. Після чого регістр зсуву послідовно виводить сприйняту інформацію на вихід TDO. Тригерна схема, яка знаходиться біля виходу мікросхеми, може після послідовного завантаження регістра зсуву з входу TDI видавати інформацію назовні мікросхеми і одночасно сприймати нову інформацію зсередини. Після чого регістра зсуву з входу TDI послідовно виводить сприйняту інформацію на вихід TDO. Хід роботи: . Для реалізації завдання було здійснено такі кроки: занесення коду тестової команди (рис. 2): код 00000000 відповідає команді Extest, тобто здійснюється Зовнішне тестування
Рис. 2 Стан автомата при занесенні команди 2 – введення тестових даних через вхід TDI (рис.3);
Рис. 3 Шлях введення тестових даних 3 - фіксація введених тестових даних (рис.4);
Рис. 4 Фіксація тестових даних 4 - обробка тестових даних системним ядром (System Level) і фіксація їх на виході ядра (рис.5);
Рис. 5 Фіксація даних на виході ядра 5 – виведення результату (рис.6).                                       
Рис. 6 Шлях виведення результату Висновок: я ознайомився з принципами роботи системи граничного сканування згідно з стандартом IEEE 1149.1-1990 і продемонстрував хід тестування на моделі.